1-2 硫化氢分析仪可调谐半导体激光吸收光谱（TDLAS）技术利用激光能量被气体分子“选频”吸收形成吸收光谱的原理来测量气体浓度。由半导体激光器发射出特定波长的激光束，穿过被测气体时，激光强度的衰减与被测气体的浓度成一定的函数关系，因此，通过测量激光强度衰减信息就可以分析获得被测气体的浓度。TDLAS 技术在测量分析痕量微量元素如CO， CO2，H2S，H2O, HCl，NH3，CH4， C2H6, C2H4, C2H2, HF, O2等同样具有独特的突出表现。
1-2 硫化氢分析仪各项参数：
| 测量原理和技术 | 可调制半导体激光吸收光谱（TALAS） |
| 光通道长度 | 20米 |
| 响应时间 | 15-30秒 |
| 压力范围 | 500-2000Mbar |
| 测量范围 | 0-50ppm（或更高） |
| 灵敏度 | 1ppm（或2% of FS） |
| 线性误差 | ≤±1%测量范围 |
| 量程漂移 | ≤1%测量范围 |
| 防护等级 | IP65 |
| 防爆等级 | EX de px mb ⅡC T4 |
| 电源 | 220VAC 200W |
| 信号传输 | U盘或RS232 |
| 环境温度 | 0-50℃ |
| 湿度 | <80% |