SED033-A-W 紫外辐照计与SED033/A/W探头作用于320-475nm波长频谱，带有专门用于A波段的光刻胶过滤器及W扩散器，可测定2e-7至2 W/cm²辐照度，测光表和探测器均带NIST可溯源ISO17025认证校准报告。
SED033-A-W 紫外辐照计介绍
Photoresist光刻胶曝光的加工设备通常非常紧凑并且没有足够的空间来进行辐照度测量。美国ILT公司致力于提供各种独特的光刻胶仪器来实现这些困难的测量。International Light ILT2400辐照计具有采用可能换分离探头设计，具有8个量级的动态测量范围，测量速度可达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向观看，以手持价格研究质量。SED033/A/W探头带有专为硅传感器提供“A”波段响应（320-475 nm）的光刻胶过滤器，以及W固体石英内半球扩散器，量程范围2e-7 至2 W/cm²。
ILT测光表是易于使用的高性能仪器，非常适合用作光度计photometers (勒克斯lux meters)、强度计intensity meters (坎德拉candela)、固化测量仪/辐照度计/光量计curing meters (剂量和曝光测量dose and exposure meters)、能量功率计power meters (瓦或流明watts or lumens)和flash meters (Xenon or LED strobe lamps)。可以订购不同的光探测器探头、滤光片、光测量输入元件和波长校准来获得更精确的测量结果。
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