XIR395 紫外辐照计及XSD340AT7探头、XIR395校准片用于精确控制395nm波长曝光强度等级和曝光时间，测量速度高达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向观看，带NIST可溯源ISO17025认证校准证书。
XIR395 紫外辐照计可自由配置光探测器、输入光学器件、过滤片和校准片，用于测量Watts瓦特, Lumens流明, Watt/cm2瓦特/平方厘米, lux勒克斯和foot-candles等光学参数。测量速度高达100μs，内置可充电电池持续长达8小时，4.3寸触摸屏显示，可横向和纵向观看，以手持价格研究质量。
ILT2400+XSD340AT7+XIR395辐照测量系统方案包含ILT2400测光表以及校准于395nm波长的XSD340AT7探头，专门用于精确控制作用波长为395nm曝光机设备UV固化工艺的曝光强度等级和曝光时间，辐照度量程8e-6 ~ 60 W/cm²，仪器及探头均附带NIST可溯源ISO17025认证校准证书。XIR395为IL探头辐照度响应校准选项，校准于395nm中心波长。X Irradiance Response (amps)(cm2)(watt-1)，At Specified Wavelength X ,Within The Bandwidth of An IL detector, Calibration At 395nm。
International Light UV固化曝光测量仪探头选型表
| 辐照计探头组合 | 响应波长频谱 | 测量范围 | 类型及应用 |
| ILT800 CureRight Radiometer ILT800-UVA：315-390 nm ILT800-BAV：275-475 nm ILT800-UV：250-400 nm ILT800-UVC：215-350 nm ILT800-UVF：平坦响应 360-400 nm Flat, (275-450nm) | 315-475 nm | 5e-3 ~ 40 W/cm2 | 扁平，UV固化/UV LED，UV烤箱 输送带曝光机辐射 |
格信达仪器源于深圳市四方信达科技有限公司（工业自动化产品及嵌入式系统解决方案提供商），随着业务的扩大及公司发展战略需要，2012年组件成立仪器仪表事业部——深圳市格信达科技有限公司，以提供优质的测试测量、电子工具产品为核心，致力于为客户提供齐备的工业全线产品，充足的现货储备，努力为企业、学校及科研机构、社会各单位提供具性价比物料供应。