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美国SED033-QNDS2 紫外辐照计
美国SED033-QNDS2 紫外辐照计用于太阳和太阳模拟器辐射测量,探头响应波长200-1100nm,传感器安装100倍衰减滤光片,读数范围6e-7 W/cm²~10W/cm²,带美国NIST可溯源校准和证书。美国SED033-QNDS2 紫外辐照
2022-06-24
美国 XSD340AT7 紫外辐照计
美国 XSD340AT7 紫外辐照计配合XSD340AT7探头可用于测量320~475nm波段、中心波长405nm的辐照度,量程8e-6至60W/cm2,可用于高强度曝光机UV固化工艺测量,以及光阻剂测量、3D打印等监测应用。美国 XSD340AT7 紫外辐照
2022-06-24
美国IL ILT2400辐照计
美国IL ILT2400辐照计探头XSD140B用于PCB印刷线路板及半导体行业光刻胶工艺紫外线曝光强度测量,响应波段326-401nm,中心波长365nm,辐照度量程7e-8至1W/cm2,研究级的质量,手持式产品的价格。美国IL ILT2400辐照计
2022-06-24
北师大光电UVA紫外辐照计
北师大光电UVA紫外辐照计自动量程型号可手动/自动量程切换,测量上限199.9 mW/cm2,分辨率0.0001 mW/cm2,波长范围=320~400nm,P=365nm,适用于光化学、高分子材料老化、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的
2022-06-23
美国ILT2400辐照计
美国ILT2400辐照计探头专门为提高UV LED曝光机测量系统精确度而设计,在UV固化作用光谱350~400nm区域提供更均匀的响应,辐照度测量范围0.05W/cm2~800mW/cm2,可添加峰值波长的PIR校准过滤片,带美国NIST可溯源ISO170
2022-06-23
美国 XSD340A 紫外辐照计
美国 XSD340A 紫外辐照计和XSD340A探头组成的测量系统可用于PCB印刷线路板光刻胶工艺,可测量320-475nm光阻剂作用光谱,校准于405nm,光探测器可承受辐照强度范围8e-7至10W/cm2,NIST可溯源ISO17025认证校准报告,保
2022-06-23
以色列Ophir ophir-vega 紫外辐照计
以色列Ophir ophir-vega 紫外辐照计是市场上功能丰富、的手持式激光功率能量计,明亮的彩色显示屏具有的易读性,便于信息处理。以色列Ophir ophir-vega 紫外辐照计表头特点易读性强的彩色屏幕兼容 Ophir 的所有探头
2022-06-23
SED254QT 紫外辐照计
SED254QT 紫外辐照计探头光谱响应波段249-259nm,校准于254nm中心波长,辐照度量程范围7e-7~10W/cm2,专门设计用于各种高强度紫外线杀菌源254nm处的杀菌效果,带美国NIST可溯源校准和证书。SED254QT 紫外辐照计介绍I
2022-06-23
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