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首页 > 供应产品 > 阻抗放大器TC-AI-601 参考价: 面议
阻抗放大器TC-AI-601 参考价: 面议
浏览: 561
单价: 面议
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发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2022-03-02 22:32
 
详细信息

阻抗放大器TC-AI-601 
产品简介:
TC阻抗放大器TC-AI-601 于我厂生产的TC-6240/TC-6280型多道生理记录仪,配合适当电可测量人体脑阻抗、肢体阻抗、心阻抗、肺阻抗等,并可求得心博出量、每博量、心率、心室射血周期等,通过面板上的显示屏显示人体基础阻抗值;并在软件中添加了相关计算模块,根据实验所得波形,填入基础阻抗值等,即可得出相关实验结果,省去了传统仪器需要根据波形图手工计算的麻烦。主要技术参数:
1.基础阻抗Z0测量的有关指标:
(1)测量范围:5Ω~200Ω
(2)显示: 三位半数字
(3)校对信号:30Ω±1%
(4)输出:300mV/30Ω
(5)线性误差:<±3%

2.基础阻抗变化量△Z测量的有关指标:
(1)测量范围:0~2Ω
(2)输出:>10mV/0.1Ω
(3)校对信号:0.1Ω±5%
(4)内部噪声:<10mVp_p
(5)输入阻抗:浮置输入,>40kΩ
(6)输出阻抗:<50Ω

3.恒流源参数:
(1)频率:50kHz±10%
(2)电流:350uArms±5%
(3)输出阻抗:>40kΩ

 

 

 

 

产品名称:人机界面控制集菌仪/控制集菌仪/集菌仪
产品型号:TW-2010

人机界面控制集菌仪 控制集菌仪 集菌仪 型号:TW-2010  
xin设计机型完全符合药dian规定  
体积小节省空间  
无级调速操作使用方便简单  
一体化全不锈钢设计,满足无菌实验室使用,经久耐用  
本仪器对所需耗材通用性强,对国内外集菌仪耗材都适用  
     PX-2010集菌仪是一次性使用全封闭集菌培养器或可反复使用集菌培养器的配套使用设施,供试品通过集菌仪的定向蠕动加压作用,实施正压过滤并在滤器内进行培养,以检验供试品是否含菌。供试品通过进样管道连续被注入集菌培养器中,利用集菌培养器内形成的下压,通过0.22µm、0.45µm、0.8µm孔径的滤膜过滤,供试品中可能存在的微生物被截留收集在滤膜上,通过冲洗滤膜除去供试品的抑菌成分。然后把所需培养基通过进样管道直接注入集菌培养器中,放置规定的温度培养,观察是否有长菌现象,符合药dian规定,操作使用方便简单。  
PX-2010集菌仪技术参数:  
1. 电源:220V/50Hz  
2. 功率:100W  
3. 转速:20-200rpm   
4. 悬架总高度:37cm  
5. 总重量:15Kg   
6. 外形尺寸:220×360×120mm    
   
PX-2010集菌仪特点:   
1.新型316L医用全不锈钢机箱,体积小节省空间,经久耐用满足无菌实验室的要求。  
2.新型相位压控无级调速,克服其它同类产品低档无力的缺点,使操作控制方便。  
3.新型高贵的涡轮减速系统,保证机器工作低噪音,大扭距力,无运转惯性保证了运转的安全性。  
4.由于采取了新型*涡轮减速系统动力系统,动力功率高,保证了高粘度样品实验的进行并可以提高速度。  
5.光电电磁安全控制,低压智能断电保护。  
6.可满足药dian所有无菌和微生物限度的试验使用。  
7.本仪器对所需耗材通用性强,对国内外集菌仪耗材都适用。  
8.销售整机保修二年 (备注:如产品2年内有任何非人为质量问题,我公司将无条件给予调换新机器)。

 

 

 

 

产品名称:介电常数介质损耗测试仪 介质损耗自动测量仪 
产品型号:JDC-105

介电常数介质损耗测试仪 介质损耗自动测量仪 型号:JDC-105

缘材料的介质损耗自动测量解决方案简介 
  
满足标准:GBT 1409-2006 测量电气缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在 内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 
一、 概述 介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切 tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗 和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法, 并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采 用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q 值量程自动转换,数值 显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原 Q 表 中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试 频率条件下,测量高频电感或谐振回路的 Q 值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电 容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的 特性阻抗等。 
  
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 
  
  
二、仪器的技术指标 1.Q 值测量 
  a.Q 值测量范围:2~1023。 
  
b.Q 值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

 

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